它设计用于波长385nm至845nm范围内的法拉第旋转角测量。该仪器可精确测量法拉第旋转的磁场依赖性。本法拉第效应测量设备的工作原理是基于旋转分析仪的方法。Max。在极隙12mm处可产生15000高斯的磁场。旋光测量分辨率为±0.01°。
通过选配装置，还可以测量热依赖性。它可以在-70至300°C的范围内评估热依赖特性，因为它可以设计安装加热室和低温恒温器。该软件允许用户控制样品温度和磁场。
| 光源 | ： | 光谱20W石英卤素灯 |
| 极化分析法 | ： | 旋转分析法 |
| 小池 | ： | 路长10mm的玻璃试管 |
| (海关持有人可应要求提供) | ||
| 样品室选项 | ： | 高/低温样品架 |
| 样品移动台 | ： | X、Y、Z轴定位器 |
| 旅行 | ： | X, Y, Z(±5mm) |
| 定位分辨率 | ： | 10微米 |
| 角分辨率 | ： | 0.1度。 |
| 电磁单元 | ： | PC控制恒流操作 |
| 冷却 | ： | 水冷式 |
| Max。磁场 | ： | 1.5特斯拉@ 12mm极隙 |
| 最小现场检测 | ： | 1高斯 |
| 现场检测 | ： | 基于霍尔探头的(基于PC的现场测量) |
| 磁场反馈 | ： | 反馈作为霍尔元件的传感器 |
| 冷水机组 | ： | 5 ~ 25℃冷水(用于冷却电磁铁) |
| 电磁铁电源 | ： | 双极性型(最大。±90v / 5a) |
| 2kVA AC220V 50Hz | ||
| 控制单元 | ： | 1kVA AC220V 50Hz |
| 软件 | ： | Spectra ORMS软件 |
灵活、适应性强的光布局
385 - 845纳米测量范围
0.009度旋光分辨率
全自动控制选项
磁场探测传感器
磁场反馈装置
型号:HC 85
样品室可以从室温加热到200°C，以测量温度依赖性。
温度范围从RT到85℃，PID温度控制
设置分辨率:0.1°C
热传感器:Pt 100欧姆
型号:NC 70
低温样品架(氮气CRYOSTAT)
用液氮将样品冷却到-70°c左右。
设置分辨率:1℃
热传感器:Pt 100欧姆
型号:te05
加热/冷却方式采用TE冷却器
温度范围:-5 ~ 40℃
温度控制方式:PID控制
热稳定性:±0.5°C
当选项安装在设备上时，最大。磁场可能会减弱。
可提供定制磁光系统。
可以提供特殊的样品台，用于样品在垂直和水平轴上的精确运动
旋光测量分辨率:0.009度(透明度大于20%时)
检测灵敏度:0.009度。
光学旋转测量范围:±90度。
测量波长范围:385nm - 845nm
光谱带宽:1nm(可变带通至10nm)
Max。磁场:12mm极隙15,000高斯
最小场检测:1高斯
磁场精度:±0.05%
具有法拉第效应的薄膜、晶体、流体等的测量
透明固体和液体Verdet常数的测量
在期望波长处磁场与法拉第旋转角的关系
法拉第旋转角与波长色散
法拉第旋转角与热依赖性(可选特性)
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