z扫描技术是测量材料强度相关非线性磁化率的一种简单而流行的实验技术。Z-SCAN表征套件是z-扫描技术的简单实现，可用于表征光学材料。在该方法中，样品沿着聚焦高斯光束的轴线在Z方向上平移，远场强度作为样品位置的函数被测量。基于局部响应的强度与样品位置的z扫描曲线分析给出了三阶磁化率的实部和虚部。
标准的开光圈和闭光圈z扫描包。与z扫描相关的两个可测量量是非线性吸收(NLA)和非线性折射(NLR)。这些参数与三阶非线性磁化率的虚部和实部有关，并提供了有关材料性质的重要信息。
1.光学面包板1200x800mm，刚性支撑- 1号。
2.532nm DPSS 100mw低噪声连续激光器
3.电动精密线性平移台和控制电子- 1no。
4.可变分束器安装- 1no。
5.运动镜面安装与金属镜面- 2nos。
6.孔径轮，可选择不同大小的孔径- 1no。
7.消色差镜头和卡座- 2个。
8.过滤轮单元有6个不同的中性密度过滤器- 1个。
9.可变光圈与mount - 1no。
10.1mm比色皿带支架- 1no。
11.硅光电二极管探测器安装- 2nos。
12.RS232接口与可选的USB串行转换器
13.Windows软件接口
14.黑屏- 3no。
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