薄膜光谱反射计是工业和科研中用于薄膜厚度分析的基本仪器。新万博网页登录最精准Holmarc的TFSR型号:HO-HAI-TFR-01SP能够以高速和可重复性分析薄膜的厚度，复折射率和表面粗糙度。TFSR理论适用于菲涅耳反射率和透射率方程的复矩阵形式。绝对反射光谱是Reflectometer背后的原理;它是反射光束(通常是单色)的强度与入射光束的强度之比。通常入射到样品表面的光束依次从受到干扰的薄膜表面的上下反射，并通过光纤通过计算机引导到附着CCD的光谱仪。在显示器上得到干涉振荡与薄膜厚度成正比的频谱图。
新万博网页登录最精准Holmarc的反射计可用于分析各种堆叠的单一，独立和粗糙层厚度，如双电，晶体，非晶，金属和吸收样品。它还可以直接测量绝对透射率和吸收率(定制)。粗糙度处理是通过EMA建模完成的。它还可以检测被研究样品的光学电导率、摩尔折射率和布鲁斯特角(定制)。
| 薄膜厚度范围 | ： | 20 nm - 35 μm |
| 反射波长范围 | ： | 400nm - 850nm |
| 透光/吸光范围 | ： | 0 - 100%(定制) |
| 光源 | ： | 卤钨石英灯，50W |
| 探测器 | ： | CCD线性阵列，3648像素 |
| 谱仪 | ： | Spectra CDS 215 |
| 精度通常用于SiO2NSF - 66 | ： | ±1 nm |
| 同一样品的准确度 | ： | ±2 nm |
| 光功率 | ： | 50 W |
| 光斑大小 | ： | 2毫米 |
| 光纤 | ： | 带SMA光纤耦合器的多模双分叉光纤 |
| 参考样品 | ： | 抛光NSF - 66 /浮法玻璃(显微镜载玻片1毫米) |
| 标准样品 | ： | 浮法玻璃上的ITO薄膜，SiO2NSF - 66衬底上的薄膜 |
| 测量模式 | ： | 曲线拟合/回归算法，FFT, FFT +曲线拟合 |
| 色散公式 | ： | 柯西，塞尔迈耶和实证模型 |
| EMA模型 | ： | 线性EMA, Bruggemann, Maxwell Garnett, Lorentz - Lorenz模型 |
| 素材库 | ： | 可扩展的材料用户库 |
| 电脑接口 | ： | USB |
单层膜和多层膜的分析(多层膜的间接法)
用于法向入射角反射率测量的光纤探头
CCD线阵图像传感器，用于同时测量每个波长的反射率
用户可扩展的资料库
数据可以保存为Excel或文本文件
先进的数学拟合算法
基于FFT的厚度测量
厚度和光学常数的提取
参数化模型
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